Jual Hioki CT6705 CURRENT PROBE Distributor Indonesia

HIOKI CT6705 Current Probe 500 A, Bandwidth DC hingga 15 MHz HIOKI CT6705 adalah high-current current probe yang dirancang untuk pengukuran bentuk gelombang arus pada aplikasi high-current dan high-frequency. Probe ini mampu mengukur arus kontinu hingga 500 A RMS dengan bandwidth DC hingga 15 MHz, sehingga dapat digunakan untuk mengamati perubahan arus yang cepat pada sistem elektronika daya. CT6705 menggunakan teknologi fluxgate sensing yang dirancang untuk mengurangi thermal drift dan efek pemanasan pada pengukuran arus tinggi dan frekuensi tinggi. Hasilnya, waveform arus dapat diamati dengan lebih stabil, termasuk ketika pengukuran dilakukan dalam waktu yang panjang. Dengan kemampuan hingga ±800 A peak selama maksimal 2 detik, bandwidth 15 MHz, dan rise time hingga 23,3 ns, HIOKI CT6705 cocok untuk kebutuhan pengembangan dan pengujian power converter, inverter, SiC/GaN semiconductor, motor drive, baterai, kendaraan listrik, serta berbagai aplikasi power electronics. Keunggulan HIOKI CT6705 Pengukuran Arus hingga 500 A CT6705 dirancang untuk pengukuran arus besar dengan kemampuan input kontinu hingga 500 A RMS untuk DC dan gelombang sinus, dengan derating yang berlaku sesuai frekuensi. Untuk kondisi peak, CT6705 mampu menangani arus hingga ±800 A peak dalam waktu maksimal 2 detik. Kemampuan tersebut membuat CT6705 sesuai untuk pengujian sistem yang membutuhkan pengamatan waveform arus berkapasitas besar sekaligus perubahan arus yang cepat. Bandwidth DC hingga 15 MHz CT6705 memiliki bandwidth DC hingga 15 MHz (-3 dB). Bandwidth yang luas memungkinkan current probe menangkap perubahan waveform arus dengan cepat, termasuk transient dan switching transition pada rangkaian power electronics. CT6705 memiliki rise time maksimum 23,3 ns, sehingga dapat digunakan untuk mengamati perubahan arus yang terjadi dalam waktu sangat singkat. Teknologi Fluxgate Sensing Salah satu fitur penting CT6705 adalah penggunaan fluxgate sensing technology. Pada pengukuran arus tinggi dan frekuensi tinggi, panas yang dihasilkan oleh probe dapat menyebabkan perubahan karakteristik pengukuran atau waveform drift. CT6705 dirancang untuk mengurangi efek tersebut sehingga waveform dapat tetap diamati secara lebih stabil selama pengukuran. Teknologi ini juga membantu mengurangi thermal drift yang dapat memengaruhi hasil pengukuran ketika temperatur lingkungan atau durasi pengukuran berubah. Mengurangi Inductive Heating Pengukuran arus pada frekuensi tinggi dapat menghasilkan inductive heating di dalam current probe. Jika panas meningkat, kondisi tersebut dapat membatasi rentang pengukuran dan menyebabkan frequency derating. HIOKI CT6705 dirancang untuk mengurangi pemanasan induktif tersebut sehingga engineer dapat melakukan pengukuran pada kondisi high-current dan high-frequency dengan lebih stabil. Desain ini memperluas kondisi operasi praktis untuk aplikasi yang membutuhkan pengukuran arus besar pada frekuensi tinggi. Waveform Lebih Stabil untuk Pengukuran Jangka Panjang Dalam pengujian power electronics, pengukuran terkadang harus dilakukan dalam waktu yang cukup lama untuk melihat perubahan temperatur, beban, maupun karakteristik sistem. Self-heating pada current probe dapat menyebabkan waveform drift selama pengukuran berlangsung. Teknologi fluxgate pada CT6705 dirancang untuk mengurangi efek self-heating tersebut. Dengan demikian, engineer dapat memperoleh observasi waveform yang lebih stabil ketika melakukan pengukuran dalam jangka waktu panjang. CT6705 untuk Pengujian SiC dan GaN Perangkat semikonduktor berbasis Silicon Carbide (SiC) dan Gallium Nitride (GaN) memungkinkan sistem power electronics bekerja pada switching speed yang lebih tinggi. Pada kondisi tersebut, perubahan arus dapat terjadi dalam waktu sangat singkat. Ripple kecil dan komponen parasitik yang muncul selama switching juga dapat memengaruhi karakteristik sistem. CT6705 menyediakan bandwidth hingga 15 MHz untuk membantu engineer mengamati waveform arus pada kondisi switching tersebut. Current probe ini juga dapat digunakan untuk double-pulse testing, termasuk untuk menganalisis switching behavior dan membantu evaluasi switching loss pada perangkat SiC dan GaN. Aplikasi HIOKI CT6705 HIOKI CT6705 dapat digunakan dalam berbagai aplikasi pengukuran dan pengembangan elektronika daya, antara lain: Pengujian power converter Pengujian inverter Pengembangan power electronics Pengujian semiconductor SiC Pengujian semiconductor GaN Double-pulse testing Analisis switching waveform Analisis switching loss Pengujian motor drive Pengembangan kendaraan listrik (EV) Pengujian sistem baterai Pengujian battery backup unit (BBU) Pengujian power supply Analisis transient current Pengukuran high-current Pengukuran high-frequency current Research & Development (R&D) HIOKI juga mencantumkan penggunaan CT6705 dalam solusi pengujian seperti BBU load variation testing serta pengujian perangkat SiC/GaN. HIOKI CT6705 Kompatibel dengan Berbagai Oscilloscope CT6705 menggunakan standard BNC output, sehingga dapat digunakan pada berbagai oscilloscope yang kompatibel. Keunggulan ini memberikan fleksibilitas bagi laboratorium yang menggunakan oscilloscope dari berbagai produsen. Current probe yang sama dapat digunakan pada lingkungan pengukuran yang berbeda tanpa harus bergantung pada satu platform oscilloscope tertentu. Selain oscilloscope, CT6705 juga dapat dihubungkan secara langsung ke HIOKI MR6000 Memory HiCorder. MR6000 menyediakan sensor power supply terintegrasi sehingga dapat membentuk sistem pengukuran dan recording waveform yang terintegrasi dengan produk HIOKI. Spesifikasi HIOKI CT6705 Parameter Spesifikasi Model HIOKI CT6705 Jenis Current Probe Bandwidth DC hingga 15 MHz (-3 dB) Rise Time ≤ 23,3 ns Continuous Allowable Input 500 A RMS Maximum Allowable Peak Input ±800 A peak dalam 2 detik Noise Level 25 mA RMS typical Amplitude Accuracy ±0,5% rdg. ±1,0 mV pada DC dan sine wave 45–66 Hz, 0–500 A RMS Peak Accuracy ±1% rdg. pada DC dan sine wave 45–66 Hz, 500–800 A peak Output Rate 0,01 V/A Konduktor yang Diukur Insulated conductor Diameter Core Ø20 mm Power Supply ±12 V ±0,5 V, 8,1 VA Dimensi Sensor 163 × 67 × 23 mm Dimensi Junction Box 45 × 120 × 26 mm Berat 425 g Panjang Kabel Sensor/Junction Box 1.700 mm Kabel Junction Box/BNC 300 mm Power Cord 1.000 mm Akurasi Dijamin 1 tahun Aksesori Standar Instruction manual dan carrying case Spesifikasi di atas mengacu pada data teknis resmi HIOKI CT6705. HIOKI CT6705 untuk High-Current Measurement Pengukuran arus besar pada sistem power electronics membutuhkan current probe yang tidak hanya mampu menangani arus tinggi, tetapi juga mampu mempertahankan karakteristik waveform ketika frekuensi switching meningkat. CT6705 menggabungkan tiga karakteristik utama: 500 A RMS current measurement Untuk pengukuran arus besar pada sistem DC maupun AC. 15 MHz bandwidth Untuk menangkap perubahan waveform dan switching transition berkecepatan tinggi. Fluxgate sensing technology Untuk membantu mengurangi thermal drift dan efek self-heating selama pengukuran. Kombinasi tersebut menjadikan CT6705 sesuai untuk kebutuhan pengembangan, validasi desain, troubleshooting, dan evaluasi performa sistem power electronics. HIOKI CT6705 untuk Power Electronics Modern Seiring meningkatnya penggunaan teknologi SiC dan GaN, sistem power electronics membutuhkan pengukuran waveform yang semakin cepat dan stabil. Kesalahan atau distorsi pada pengukuran dapat menyebabkan engineer memperoleh gambaran yang tidak sesuai dengan kondisi sebenarnya dari rangkaian yang diuji. CT6705 dirancang untuk membantu meminimalkan pengaruh pengukuran tersebut melalui kombinasi bandwidth yang luas, kemampuan high-current, dan teknologi fluxgate sensing. Untuk aplikasi seperti double-pulse testing, switching loss analysis, inverter testing, power converter development, EV power systems, dan battery systems, kemampuan melihat waveform arus secara detail dapat membantu proses evaluasi dan validasi desain. Power Supply untuk HIOKI CT6705 CT6705 menggunakan power supply ±12 V ±0,5 V dengan kebutuhan 8,1 VA. HIOKI mencantumkan POWER SUPPLY 3269 sebagai power supply yang dapat digunakan untuk CT6705. Unit 3269 menyediakan tiga channel untuk CT6704 dan CT6705 serta output ±12 V. HIOKI CT6705 Current Probe merupakan solusi pengukuran arus untuk aplikasi yang membutuhkan kombinasi arus tinggi hingga 500 A, bandwidth hingga 15 MHz, dan kestabilan waveform. Dengan teknologi fluxgate sensing, CT6705 dirancang untuk mengurangi thermal drift dan inductive heating yang dapat menjadi tantangan dalam pengukuran high-current dan high-frequency. Kemampuan tersebut membuat CT6705 sesuai untuk berbagai kebutuhan power electronics, inverter, power converter, SiC/GaN semiconductor, EV, battery, motor drive, power supply, dan R&D. Jika Anda membutuhkan HIOKI CT6705 Current Probe 500 A untuk kebutuhan industri, laboratorium, engineering, atau penelitian dan pengembangan, hubungi kami untuk informasi harga, ketersediaan produk, spesifikasi, dan penawaran.