Micro LED CPO高精度檢量測機
支援缺陷類型 可支援 Micro LED 各類晶粒缺陷及缺晶檢知 量測功能 高精度 Micro LED 陣列之對位偏移 / 旋轉量測，重複精度可達0.2μm AI 智慧分類 搭載 AI RTDC 與 AI ADJ ，有效區分有效缺陷、無效缺陷及缺陷類型，提高檢測效率
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